UAEH sede de las reuniones de Difractometría y de Luz Sincrotrón


Dirección de Comunicación Social, 07/Noviembre/2019

Boletín Electrónico Informativo 663


*En la Reunión se desarrollan sesiones plenarias, cursos, el Foro Academia-Industria, así como una sesión de posters explicativos. 

*Se presentan cuatro cursos especializados donde se dan a conocer los más recientes avances científicos a partir de datos difractométricos. 

 

Pachuca de Soto, Hidalgo.- Del 6 al 8 de noviembre, la Universidad Autónoma del Estado de Hidalgo (UAEH) es sede de la VI Reunión Nacional de Difractometría 2019 y primera Reunión Internacional de Luz Sincrotrón, donde mediante cursos, sesiones plenarias se expondrán los principales avances, retos y aplicaciones de esta disciplina en la ciencia y la tecnología.  

 

Al inaugurar este evento académico en el Centro de Negocios Universidad, el coordinador de la División de Investigación y Posgrado de la UAEH, Otilio Arturo Acevedo Sandoval, resaltó la importancia de que la Autónoma de Hidalgo sea anfitriona de esta Reunión Nacional de Difractometría pues esta área del conocimiento tiene una gran relevancia para numerosas disciplinas científicas. 

 

“Es una herramienta fundamental para el progreso de la humanidad, que ha contribuido a la comprensión de enlaces químicos, nuevos materiales, los cuasi cristales o la resolución de la estructura del ADN, así como de proteínas y hormonas responsables de algunas enfermedades”, precisó. 

 

Por su parte, el presidente de la Sociedad Mexicana de Cristalografía y representante del comité organizador de la Reunión Nacional de Difractometría, expuso que en esta sexta edición se centra en la radiación sincrotrón para conectar con todo el trabajo difractométrico que se desarrolla en las líneas experimentales de los sincrotrones. 

 

Asimismo, señaló que este evento académico se celebra de forma bianual alternadamente con el Congreso Nacional de Cristalografía, ambos organizados por la Sociedad Mexicana de Cristalografía. 

 

El director del Instituto de Química de la UNAM, Jorge Peón Peralta y la directora del Instituto de Física de la BUAP, María Eugenia Mendoza Álvarez, plantearon que ha aumentado en la comunidad científica de diversos sectores el uso de datos de difracción como lo son rayos-X, electrones y neutrones, y cada vez son más las áreas científico-tecnológicas que se nutren de la información alcanzada con la aplicación de métodos cristalográficos de resolución estructural.

 

La aplicación de dichos métodos se traduce en la caracterización de pigmentos en arqueometría hasta la predicción y resolución de estructuras de proteínas para diseño de fármacos, pasando por la cuantificación de fases cristalinas del cemento, entre otros. 

 

En ese sentido, el jefe del Área Académica de Ciencias de los Materiales, Marius Ramírez Cardona, comentó las conferencias que se presentan en esta Reunión Nacional de Difractometría abordarán temas sobre estructuras de átomos en sistemas muy complejos de mineralogía, bioquímico y macro molecular. 

 

Además detalló que se presentarán cuatro cursos especializados a cargo de ponentes de talla mundial, quienes mostrarán los últimos avances en resolución estructural a partir de datos difractométricos, es decir, de la difracción de rayos-X, como de neutrones y electrones.   


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