VI Reunión Nacional de Difractometría

La “VI Reunión Nacional de Difractometría” tendrá un enfoque en las técnicas de difracción de rayos-X, que beneficiarán a los estudiantes de carreras que utilicen técnicas de difracción y técnicas cristalográficas para aplicaciones a la minería, las ciencias de la tierra y sobre todo que se enfoquen a la difracción de rayos-X empleando radiación sincrotrónica. Así mismo beneficiará a docentes, técnicos y personal de la industria que necesite una actualización en técnicas de difracción de rayos-X, neutrones, electrones y fotones.

Lugar

Centro de Negocios Universidad, Avenida Universidad, Santiago Jaltepec, 42182 Pachuca de Soto, Hgo.

Fecha

6 al 8 de noviembre de 2019

Dr. Jorge Peón Peralta
Director del IQ-UNAM

Dr. Miguel Delgado
Universidad de Los Andes de Venezuela

Dra. Graciela Díaz de Delgado
Universidad de Los Andes de Venezuela

Dr. Wulf Depmeier
University Of Kiel, Alemania

Dr. Arturo Ponce Pedraza
University of Texas at San Antonio, USA

Dr. Brenda Valderrama Blanco
Presidenta de la Academia de Ciencias de Morelos e Investigadora del IBT-UNAM

Dr. Gustavo Cruz Jiménez
Coordinador de REDTULS-CONACYT, México

Dr. José Luis Ruvalcaba Sil
IF-UNAM, México

Dr. Matías Moreno
Instituto de Física de la UNAM, México

Dr. Jean Jakoncic
Brookhaven National Labs, NSLS-II. Upton New York, USA

Dra. Adela Rodríguez Romero
Instituto de Química, UNAM, México

Dr. Vivian Stojanoff
Brookhaven National Laboratory-NSLS-II, New York, USA

Dr. William B. O´Dell
Institute for Bioscience & Biotechnology Research University of Maryland NIST USA

Dr. José Guadalupe Alvarado Rodríguez
Área Académica de Química de la UAEH